高精度六轴扫查器,扫查模式:平面,侧面,柱面,圆锥,球面,曲面; 系统采用WINDOW XP系统,简介易用; 探伤扫查中实时显示C扫描或B,C扫描图像; 主机采用高频高带宽HIS3 HF主机,带宽范围:1-300MHz; 扫查结束后,可通过图像处理软件对其进行解析和评估; 采用资质MURAI图像处理技术,可在显示屏上显示2值化,双色,16色调或者256色调的色彩渐变显示; 可以实现夹杂、气孔缺陷定性C扫描分色显示; 可彩色打印检测结果,或者将电子数据存储在CD,DVD等媒介中。
通过对回波信号幅度和相位进行分析,可以轻松检测出材料内部的分层、脱粘以及气孔与夹杂等缺陷。MURAI 技术尤其适用于高频检测应用,如:芯片封装检测。通过不同材料声阻抗的差异,根据R=(Z2-Z1)/(Z2+Z1)和入射波、穿透波、反射回波计算,得出其相位和幅度的变化,并根据其变化,进行缺陷颜色判别。
六轴高精度扫描器具备多重扫描模式,可以通过简单的选择扫描起点和终点确定扫描区域也可同时配置旋转辊模式检测管棒材。